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X-射线荧光光谱分析法测定工业硅中钙、铁、铝的研讨1.0

作者:济南海博    发布时间:2021-01-08 17:11:46    浏览量:

随着工业硅产量的迅速增长,及工业硅在电子、 化工、冶金等行业领域的广泛应用,对工业硅杂质含 量检测也提出了更高的分析要求。 现在都采用传统 的化学分析方法分析工业硅中的成分,该方法在分 析过程中分析步骤复杂,分析周期较长,工作效率不 高,但能保证分析结果的准确性。 本文主要介绍采 用 X-射线荧光光谱分析法测定工业硅中 Ca、Fe、Al 的元素含量,随着在生产过程中与化学分析方法的 大量比对试验,确保了 X-射线荧光光谱分析法测定 工业硅中 Ca、Fe、Al 的准确性,该方法操作简单,快 速准确,成本低,对环境和样品的污染小。